苹果专利:基于超表面材料的结构光测距方案

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6月10日消息,USPTO公布一项来自苹果的光学专利,专利中指出了一种基于超表面材料的图案投影模组,可用来实现于iPhone Face ID使用的TrueDepth结构光测距功能。

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据了解,常见的投影模块通常包含光源、透镜系统和衍射光学元件(DOE),其缺点是体积、重量和成本高。为了解决这一问题,苹果设计了一个基于超材料的单个光学元件,特点是同时具备聚焦/准直和输出图案功能。

苹果在专利中介绍,该方案包含单个透明基板,基板上的第一超表面可将照射到光学元件上的输入光束进行对焦,而第二超表面则会将输入光束分成多个输出光束阵列。

应用场景方面,该方案可通过将光斑图案投射到目标场景上,来实现结构光深度测绘,对目标场景的结构进行测量定位。

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参考:PatentlyApple

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